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菲希爾XDL237熒光X射線測(cè)厚儀信息
點(diǎn)擊次數(shù)：68 更新時(shí)間：2025-11-07
德國(guó)菲希爾XDL237熒光射線測(cè)厚儀簡(jiǎn)介
德國(guó)菲希爾（HELMUT FISCHER GmbH）作為材料測(cè)試與分析儀器制造商，其推出的XDL237X射線熒光測(cè)厚儀在精密涂層厚度測(cè)量領(lǐng)域享有聲譽(yù)。該設(shè)備專為多層、合金及復(fù)雜鍍層系統(tǒng)設(shè)計(jì)，適用于電子、汽車、航空航天、五金電鍍等高精度制造行業(yè)。
XDL237采用先進(jìn)的能量色散X射線熒光（EDXRF）技術(shù)，可在不破壞樣品的前提下，快速、準(zhǔn)確地測(cè)定從納米級(jí)到微米級(jí)的金屬或非金屬涂層厚度。其核心優(yōu)勢(shì)在于可同時(shí)分析多達(dá)24種元素，并支持多達(dá)五層鍍層結(jié)構(gòu)的同步測(cè)量，例如常見(jiàn)的Cu/Ni/Cr、Sn/Pb、Au/Ni/Cu等復(fù)合鍍層體系。儀器配備高分辨率硅漂移探測(cè)器（SDD），顯著提升了檢測(cè)靈敏度和重復(fù)性。
此外，XDL237備全自動(dòng)測(cè)量平臺(tái)，支持大尺寸樣品自動(dòng)定位與掃描，配合FISCHER WinFTM® V6專業(yè)軟件，用戶可輕松完成數(shù)據(jù)采集、統(tǒng)計(jì)分析與報(bào)告生成。設(shè)備符合ISO 3497、ASTM B568等國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)，確保測(cè)量結(jié)果具有可追溯性。
