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菲希爾X射線測厚儀FISCHER XDL230信息
點擊次數:299 更新時間:2025-04-29

FISCHERSCOPE X-RAY XDL230菲希爾X射線測厚儀是一款應用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。該儀器具備以下顯著優勢:

  • 應用領域廣泛:適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析,同時可檢測大規模生產的零部件及印刷線路板上的鍍層。

  • 性能穩定可靠:擁有良好的長期穩定性,大幅減少儀器校準頻率;比例接收器實現高計數率,保障高精度測量。

  • 測量方法先進:采用FISCHER基本參數法,無論是鍍層系統,還是固體和液體樣品,無需標準片即可進行測量和分析。

菲希爾代理FISCHERSCOPE X-RAY XDL230產品應用

  • 測量大規模生產的電鍍部件

  • 測量超薄鍍層,例如裝飾鉻

  • 測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層

  • 測量印刷線路板

  • 分析電鍍溶液


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