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　　覆層的厚度丈量已成為金屬加工工業(yè)已用戶停止廢品質(zhì)量檢測(cè)*的蕞重要的工序。是產(chǎn)品到達(dá)優(yōu)質(zhì)規(guī)范的*手腕。目前，國(guó)內(nèi)外已普遍按統(tǒng)一的規(guī)范測(cè)定庫(kù)侖鍍層厚度，覆層無(wú)損檢測(cè)的辦法和儀器的選擇隨著資料物理性質(zhì)研討方面的逐步進(jìn)步而愈加至關(guān)重要。

　　有關(guān)覆層無(wú)損檢測(cè)辦法，主要有：楔切法、光截法、電解法、厚度差丈量法、稱(chēng)重法、X射線瑩光法、β射線反射法、電容法、磁性丈量法及渦流丈量法等。這些辦法中除了后五種外大多都要損壞產(chǎn)品或產(chǎn)品外表，系有損檢測(cè)，丈量手腕繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。

　　電容法普通僅在很薄導(dǎo)電體的絕緣覆層厚度測(cè)試上應(yīng)用。磁性丈量法及渦流丈量法，隨著技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來(lái)引入微處置機(jī)技術(shù)后，測(cè)厚儀向微型、智能型、多功用、高精度、適用化方面邁進(jìn)了一大步。丈量的分辨率已達(dá)0.1μm,精度可到達(dá)1%.又有適用范圍廣，量程寬、操作煩瑣、價(jià)廉等特性。是工業(yè)和科研運(yùn)用蕞普遍的儀器。

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