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在某種溫度下使用某種探頭， 對某種材料進行準確的測量之前， 必須對 27MG 超聲測厚儀進行正確的校準。27MG 校準程序對測厚儀進行調(diào)整， 以使儀器可以在某種特定溫度下使用某種特定探頭對某種特定材料進行準確的測量。 校準程序包括:
          ?  探頭零位補償: 探頭零位補償校準聲束在每個雙晶探頭延遲塊中的傳插時間。 不同探頭的傳播時間會各不相同， 且隨溫度而變化。 啟動測厚儀、 更換探頭或探頭溫度出現(xiàn)顯著變化時， 必須進行這個簡單的無需試塊的操作程序。
          ?  材料聲速校準或校準聲速: 校準材料聲速需使用一個帶有已知厚度且材料與被測工件相同的厚試塊進行， 或者以手動方式輸入一個以前確定的材料聲速。 測量每一種新材料時， 都需進行這種校準。
          ?  零位校準或校準零位: 零位校準需使用一個帶有已知厚度且材料與被測工件相同的薄試塊進行。 與前兩種校準不同的是， 零位校準操作只有在需要**精度時才有必要進行(準確度高于±0.10毫米)。 如果需要， 也只需在使用新的探頭和材料組合時進行一次零位校準。 當探頭溫度變化時，不需要重復進行零位校準。 探頭的零位補償需根據(jù)探頭的溫度變化進行調(diào)整。

材料聲速校準

在不知道材料聲速時， 要使用一個與被測村件材料相同的校準試塊進行材料聲速校準。 在知道材料聲速的情況下， 可以直接輸入聲速。不知道材料聲速時要進行材料聲速校準， 必須使用與被測樣件材料相同的校準試塊。 試塊的厚度必須與被測材料的厚部分大致相同， 而且上下兩個表面要平滑、 平行。 必須知道試塊的確切厚度。

零位校準

進行零位校準所使用的校準試塊的材料， 必須與被測材料相同。 試塊厚度必須與被測材料的*薄部分大致相同。 如果被測材料表面比較粗糙， 可以將校準試塊的表面磨粗， 以使其近似于被測表而的粗糙程度。 粗糙的表面通常會降低測量精度， 但在試塊上模擬出待測工二件的實際表面狀況， 可改善測量結果。 必須了解樣件的確切厚度。